Optik profilometre ölçümünde yüzeyin topografyasını analiz etmek için ışık kaynağı kullanılır. Optik profilometre ile tek bir noktadan, bir çizgiden veya bir alandan alınan 2 ve 3 boyutlu ölçümler yapılabilmektedir. Profilometre yüzey morfolojisi, basamak yükseklikleri ve yüzey pürüzlülüğü gibi yüzeyin topografik özellikleri elde edilir.
- Yüksek çözünürlüklü dijital mikroskopi, doğru Z derinlik ölçümü, hızlı 3D alma ve analiz, otomatik derinlik kompozisyonu
- Mikrometre ve nanometre aralığında 2D ve 3D yüzey analizi
- Sık kullanılan Ra (Sa), Rq (Sq), Rz (Sz) parametreleri de dahil olmak üzere toplam 12 analiz parametresi sağlanmaktadır
- Optik profilometre tahribatsızdır ve numuneye zarar vermez
- Işık kaynağı: Dahili koaksiyel LED ışık kaynağı
- Kamera: 1 / 1.8” CCD 1616 x 1216 4.40 kare piksel, 12 fps
- Güç kaynağı: 110/220V AC
- Ölçüm aralığı: Ra, Rq: 0.01 ‐ 500 µm
- Ölçüm doğruluğu: ≤ ± 10%
- Tekrarlanabilirlik: ≤6%
- Boyut ve Ağırlık (ZeeScope Başlığı): 225 (Y) x 40 (G) x 55 (D) mm, 425 g
- Boyut ve Ağırlık (Kontrol ünitesi): 40 (Y) 158 (G) 150 (D) mm, 150 g
- PC Arayüzü: USB 2.0