Araştırma, analiz ve üretim çalışmalarında kullanılan ileri teknoloji cihaz altyapımızı inceleyin.
VS Serisi Helyum Kütle Spektrometresi Kaçak Dedektörü, izleyici gaz olarak helyum kullanan çeşitli sistemlerdeki kaçakları tespit etmek ve ölçmek için kullanılan gelişmiş bir cihazdır.…
Detayları incele→
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), araştırmacıların yüzeyleri nano boyutta incelemelerine olanak tanıyan yüksek çözünürlüklü bir görüntüleme aracıdır. AFM'nin çalışma prensibi, bir Cantilever üzerine monte edilmiş…
Detayları incele→
Optik profilometre ölçümünde yüzeyin topografyasını analiz etmek için ışık kaynağı kullanılır. Optik profilometre ile tek bir noktadan, bir çizgiden veya bir alandan alınan 2…
Detayları incele→