27 Aralık 2024

Nanomap LS 500 Kontak Profilometresi, malzemelerin yüzey topografisini mikroskobik ölçekte analiz etmek için kullanılan hassas bir cihazdır. Farklı boyut ve türdeki malzemelerin yüzey pürüzlülüğü, step yüksekliği, eğriliği ve şekli gibi geleneksel yüzey özelliklerinin tespiti için kullanılır. 1,3 mm’ye kadar dikey aralıklar sunarken, 0,5 nm’den yukarıya doğru herhangi bir yerde olabilecek nanometre ölçeğindeki dikey özellikleri ölçebilmektedir. NanoMap-500LS gürültünün tamamen ortadan kaldırılmasını sağlamak için titreşim önleyici Pedler ve akustik muhafaza kutusu bulunmaktadır.

2 boyutlu ve 3 boyutlu tarama yapılabilmektedir.

• 2 boyutlu tarama bir çizgi profili taraması sağlar.
• 3 boyutlu tarama bir alan taraması yapar ve yükseklik profili sağlar.
• Tarama Modları:
  • Kısa Tarama Modu: Tarama aralığı: 10 µm ~ 500 µm
  • Uzun Tarama Modu: Tarama aralığı: 500 µm ~ 100000 µm
• Yükseklik ölçümü: Prob ucunda yüksekliği ölçmek için iki sensör bulunmaktadır:
  • İnce Sensör: Dikey ölçüm aralığı 5 µm’dir ve yüzey pürüzlülüğü gibi çok küçük z yüksekliğindeki değişimleri ölçmek için kullanılır.
  • Kalın Sensör: Dikey ölçüm aralığı 500 µm’dir ve büyük derinliklere sahip yüzeyleri ölçmek için kullanılır.
• Prob ucu temas kuvveti: 0.1 mg ile 100 mgs arasında uygulanabilmektedir.
• lçüm Hızı:
  • Kısa Tarama:
    • Yüksek: 35 µm/saniye
    • Orta: 17 µm/saniye
    • Düşük: 11 µm/saniye
  • Uzun Tarama:
    • 50 µm/saniye ~ 5000 µm/saniye
• 2D Data Analizi:
  • Yükseklik istatistiksel ölçümü
  • Step (adım) yüksekliği ölçümü
  • Yüzey pürüzlülüğü ölçümü
• 3D Data Analizi:
  • Yükseklik istatistiksel ölçümü
  • Step (adım) yüksekliği ölçümü
  • Yüzey pürüzlülüğü ölçümü
  • 3D histogram analizi
  • Hacim ölçümü