Keitley 4200-SCS Yarıiletken Karakterizasyon Sistemi

27 Aralık 2024

Yarıiletken yapıların ve aygıtların DC I-V, C-V ve darbe karakterizasyonu gibi ölçümlerin alınmasında kullanılan bir sistemdir.

    • I-V Kaynak Ölçü Birimi (SMU):

      ± 210 V / 100 mA veya ± 210 V / 1 A modül, 100 fA ölçü çözünürlüğü, İsteğe bağlı PreAmp ile 10 mA ölçü çözünürlüğü, 10 mHz – 10 Hz çok düşük frekans kapasitansına sahiptir.

    • Ölçümler:

      4 kadranlı işlem, 2 veya 4 telli bağlantı

    • C-V Çok Frekanslı Kapasite Ünitesi (CVU):

      AC empedans ölçümleri (C-V, C-f, C-t), 1 kHz – 10 MHz frekans aralığı, ± 30 V (60 V diferansiyel) yerleşik DC kutup, ± 210 V (420 V diferansiyel), İsteğe bağlı CVIV Multi-Switch ile I-V ve C-V ölçümleri arasında basit geçiş

    • Darbeli I-V Ultra Hızlı Darbe Ölçme Ünitesi (PMU):

      Yüksek hızlı darbeli I-V kaynağı ve ölçüm birimi olmak üzere iki bağımsız veya senkronize kanal, 200 MSa / sn, 5 ns örnekleme hızı, ± 40 V (80 Vp-p), ± 800 mA, geçici dalga formu yakalama modu, 10 ns programlanabilir çözünürlüğe sahip çok seviyeli pulse dalga formu için rastgele dalga biçimi üreteci

    • Yüksek Gerilim Darbe Jeneratör Ünitesi (PGU):

      İki kanal yüksek hızlı darbeli V kaynağı, ± 40 V (80 Vp-p), ± 800 mA, 10 ns programlanabilir çözünürlüğe sahip çok seviyeli pulse dalga formu için rastgele dalga biçimi üreteci Segment ARB® modu

    • I-V / C-V Çoklu Anahtar Modülü (CVIV):

      Probu iğnelerini yeniden bağlamadan veya kaldırmadan kolayca I-V ve C-V ölçümleri arasında geçiş yapılır, probu iğnelerini yeniden bağlamadan veya kaldırmadan C-V ölçümünü herhangi bir terminale taşınılır, ± 210 V DC yönlendirme özelliği

  • Uzaktan Ön Amplifikatör / Anahtar Modülü (RPM):

    I-V, C-V ve ultra hızlı darbeli I-V ölçümleri arasında otomatik olarak geçiş yapar, 4225-PMU’nun mevcut hassasiyetini onlarca pikoampere genişletir, kablo kapasitans etkilerini azaltır.