AIXTRON 200/4 RF-S Metalorganik Kimyasal Buhar Biriktirme Yöntemi (MOCVD)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 10:45
Teknik Özellikler
Nikon Eclipse LV150N Optik Mikroskop (Optik Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:08
Teknik Özellikler
Nomarskı Modlu Malzeme Mikroskobu (Yüzey Karakterizasyonu)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:09
Teknik Özellikler
VS Serisi Helyum Kütle Spektrometresi Kaçak Dedektörü
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:12
Teknik Özellikler
Nanovak (NVTS-500-2TH1DC1RF) Sputter/Termal İnce Film Kaplama Cihazı
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:12
Teknik Özellikler
Rigaku SmartLab Yüksek Çözünürlüklü X-Işını Kırınımı (Yapısal Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:22
Teknik Özellikler
TCA9KS05N Modeli Chiller (Rigaku SmartLab Yüksek Çözünürlüklü X-Işını Kırınımı Cihazı için kullanılmaktadır)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:23
Teknik Özellikler
ProfiCool Novus PCNO 30.03-NED Mini Chiller
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:25
Teknik Özellikler
ISISO MPC-110 Tip Mini Chiller (Yüksek Çözünürlüklü Fotoluminesans Spektrometre Sistemi için kullanılmaktadır)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:28
Teknik Özellikler
Keitley 4200-SCS Yarıiletken Karakterizasyon Sistemi
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:31
Teknik Özellikler
Güneş Simülatörü Lambası (Elektriksel Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:32
Teknik Özellikler
Kulicke ve Soffa Model 4124 Top Tel Bağlayıcı (Elektriksel Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:33
Teknik Özellikler
Motic PMS-1000 Mikroskop (Elektriksel Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:34
Teknik Özellikler
Hall Etkisi Ölçüm Sistemi (HEMS, Elektriksel Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:36
Teknik Özellikler
Unitemp-100 RTP Sistemi (Tavlama Sistemi)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:36
Teknik Özellikler
OPT-S9000 Spektroskopik Elipsometre (Optik Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:37
Teknik Özellikler
Varian UV-VIS-NIR Spektrofotometre (Optik Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:37
Teknik Özellikler
Geniş Spektrumlu (200 – 2200 nm) Yüksek Çözünürlüklü Fotoluminesans Spektrometre Sistemi (Optik Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:40
Teknik Özellikler
Deluxe Power Meter (Optik Karakterizasyon)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:42
Teknik Özellikler
Yüksek Performans Atomik Kuvvet Mikroskobu (hp AFM) Cihazı (Yüzey Karakterizasyonu)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:43
Teknik Özellikler
NanoMap 500LS 3D Profilometre (Yüzey Karakterizasyonu)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:43
Teknik Özellikler
ZeeScope Optik Profilometre (Yüzey Karakterizasyonu)
Yayınlanma Tarihi: 27 Aralık 2024, 11:44
Teknik Özellikler