Cihazlarımız

Resim 1
AIXTRON 200/4 RF-S Metalorganik Kimyasal Buhar Biriktirme Yöntemi (MOCVD)
Resim 2
İklimlendirme Sistemleri
Resim 2
Scrubber
Resim 3
Spectron Gaz Kontrol Sistemi
Resim 4
PSA Azot Jeneratör Sistemi
Resim 5
HOGEN S40 S-Serisi Hidrojen Jeneratörü
Resim 6
Nikon Eclipse LV150N Optik Mikroskop (Optik Karakterizasyon)
Resim 7
Nomarskı Modlu Malzeme Mikroskobu (Yüzey Karakterizasyonu)
Resim 8
PELCO Flip Scribe
Resim 9
VS Serisi Helyum Kütle Spektrometresi Kaçak Dedektörü
Resim 9
Nanovak (NVTS-500-2TH1DC1RF) Sputter/Termal İnce Film Kaplama Cihazı
Resim 10
PLF Kül Fırın
Resim 11
Mikrotest TT04 Gemo Fırını
Resim 12
Termal Laboratuvar Aletleri Fırını
Resim 13
Heidolph MR Hei-Tec Manyetik Karıştırıcı
Resim 14
IKA® C-MAG HS Hotplate Karıştırıcı
Resim 15
Ultrasonik Temizleyiciler
Resim 16
Laurell WS-650MZ-23NPPB Spin Coater
Resim 17
Rigaku SmartLab Yüksek Çözünürlüklü X-Işını Kırınımı (Yapısal Karakterizasyon)
Resim 18
TCA9KS05N Modeli Chiller (Rigaku SmartLab Yüksek Çözünürlüklü X-Işını Kırınımı Cihazı için kullanılmaktadır)
Resim 19
ProfiCool Novus PCNO 30.03-NED Mini Chiller (Unitemp-100 RTP Sistemi Için kullanılmaktadır)
Resim 20
ISISO MPC-110 Tip Mini Chiller (Yüksek Çözünürlüklü Fotoluminesans Spektrometre Sistemi için kullanılmaktadır)
Resim 21
Keitley 4200-SCS Yarıiletken Karakterizasyon Sistemi (Elektriksel Karakterizasyon)
Resim 22
Güneş Simülatörü Lambası (Elektriksel Karakterizasyon)
Resim 23
Kulicke ve Soffa Model 4124 Top Tel Bağlayıcı (Elektriksel Karakterizasyon)
Resim 24
Motic PMS-1000 Mikroskop (Elektriksel Karakterizasyon)
Resim 25
Hall Etkisi Ölçüm Sistemi (HEMS, Elektriksel Karakterizasyon)
Resim 26
Unitemp-100 RTP Sistemi (Tavlama Sistemi)
Resim 27
OPT-S9000 Spektroskopik Elipsometre (Optik Karakterizasyon)
Resim 28
Varian UV-VIS-NIR Spektrofotomete (Optik Karakterizasyon)
Resim 29
Geniş Spektrumlu (200-2200 nm) Yüksek Çözünürlüklü Fotoluminesans Spektrometre Sistemi (Optik Karakterizasyon)
Resim 30
Deluxe Power Meter (Optik Karakterizasyon)
Resim 31
Yüksek Performans Atomik Kuvvet Mikroskobu (hp AFM) Cihazı (Yüzey Karakterizasyonu)
Resim 32
NanoMap 500LS 3D Profilometre (Yüzey Karakterizasyonu)
Resim 33
ZeeScope Optik Profilometre (Yüzey Karakterizasyonu)
İletişim Bilgilerimiz

Sivas Cumhuriyet Üniversitesi 58140 Kampüs/SİVAS

0346 487 40 76/40 86

cunam@cumhuriyet.edu.tr


Hakkımızda
Vizyon & Misyon Çalışma Alanlarımız Fotoğraflarla CÜNAM Basında Biz Mevzuat
Hızlı Bağlanıtlar
Anasayfa Hizmet Listesi Altyapımız İletişim
Logo