Merkezimizde büyük bir yenilikle karşınızdayız! Atomik Kuvvet Mikroskobumuz (AFM) artık hizmetinizde!

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) Nedir?

Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), numune tahribatı olmaksızın yüksek çözünürlüklü görüntü alabilmemizi sağlayan bir yüzey tarama tekniğidir. AFM ile numunenin mekaniksel, fonksiyonel ve elektriksel özellikleri analiz edilebilmekte ve optik kırınım sınırına kıyasla nanometre düzeyindeki çözünürlüğü bize çok daha hassas ve verimli sonuçlar sunmaktadır.

AFM ile yüzeylerin yükseklik ve sürtünme gibi öğelerini atomik düzeyde inceleyerek, nanoteknoloji ve malzeme bilimi alanlarında çığır açan araştırmalar yapmaya hazırız.

We are here with a great innovation in our research center! Atomic Force Microscope (AFM) is now at your service!

What is Atomic Force Microscopy (AFM)?

Atomic Force Microscopy (AFM) is a surface scanning technique that allows us to obtain high-resolution images without damaging the sample. With AFM, the sample’s mechanical, functional, and electrical properties can be analyzed, and its resolution at the nanometer level provides us with more sensitive and efficient results compared to the optical diffraction limit.

By examining elements of surfaces such as height and friction at the atomic level with AFM, we are ready to conduct groundbreaking research in the fields of nanotechnology and materials science.